2017 年 4 月 12 日,飛納電鏡于蘇州金雞湖凱賓斯基大酒店舉行盛大的新品發(fā)布會,不僅發(fā)布并展出了三款創(chuàng)新產品,而且還帶來了臺式掃描電鏡的全新概念。會上,飛納電鏡產品 Jos Mass 介紹了公司發(fā)展歷程、理念,詳細介紹了新產品并回答客戶提問。
Phenom-World(飛納世界)是一家源于世界掃描電鏡制造商美國 FEI 的公司,2009 年,荷蘭 Phenom-World 公司成立。2012 年飛納電鏡研發(fā)出世界*電鏡能譜一體機,開創(chuàng)電鏡能譜設計新理念。在接下來的幾年中,飛納電鏡加速創(chuàng)新,產品不斷更新?lián)Q代,功能更加強大。
Jos Maas 介紹說:“十年前我們開始研制臺式電鏡,那個時候, 臺式電鏡真的是很簡單的掃描電鏡(SEM)。十年過去了,臺式電鏡已經有了很大突破與創(chuàng)新,現(xiàn)在已經變得很成熟了,我們現(xiàn)在可以想象,如果不再用臺式掃描電鏡,我們的掃描電鏡工作該如何進行。臺式掃描電鏡在今天已經變成了一個全新的概念。”
飛納電鏡新品發(fā)布會現(xiàn)場
飛納產品 Jos Maas 回答客戶提問
發(fā)布會上,飛納推出了第五代產品,也是產品——高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro + SED ,以及可用于 Phenom XL 全自動顯微平臺的優(yōu)中心樣品臺(Eucentric stage)和拉伸臺(Tensile stage)。
飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro + SED
● 高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro + SED
飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro 以其*的背散射成像(BSE)而,如今又在 BSE 基礎上增添了二次電子成像( SED ), SED 首先采用了更優(yōu)化的真空系統(tǒng)減小殘留空氣對電子束的散射,從而提高圖像信噪比,同時可利用更小束斑成像,大幅度提高分辨率。其次采用了更優(yōu)化的燈絲束流控制系統(tǒng),提高了發(fā)射束流的單色性,降低了成像系統(tǒng)的像差,從而更大程度的減小了束斑尺寸。
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 優(yōu)中心樣品杯
● 全自動顯微平臺 Phenom XL + 可傾斜旋轉的優(yōu)中心樣品杯
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 具有很強的后期可拓展性,其中此次即將發(fā)布的新產品就是針對 Phenom XL 的一個拓展。該優(yōu)中心樣品杯采用了*的設計,它包含了一個可以測試優(yōu)中心傾斜和旋轉的子樣品臺,可以在一分鐘內實現(xiàn)裝卸樣品。優(yōu)中心樣品杯的傾斜和旋轉意義重大,可以從不同角度來觀察樣品,比如測量樣品的深度、高度和厚度特征,檢查鍍層之間或零件之間的連接情況。在能譜元素分析中,傾斜功能也同樣十分有用。不平整樣品可以通過傾斜,使被分析面變得水平,從而提高能譜元素分析的準確度。
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 拉伸臺
● 全自動顯微平臺 Phenom XL + 拉伸臺
飛納電鏡此次的新品發(fā)布會上會呈現(xiàn)的第三個產品就是拉伸臺,此產品也是飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 一項重大拓展。拉伸臺是一種動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發(fā)揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺的zui大特點是,在進行應力—應變力學定量測試的同時, 利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對材料的力學性能進行動態(tài)研究。拉伸臺可以為很多材料做拉伸測試,如金屬材料(研究韌斷過程、應力誘發(fā)相變及塑性變形),高分子材料,陶瓷材料等。飛納臺式掃描電鏡的原位拉伸臺能實現(xiàn) 2N-1000N 的拉力區(qū)間,拉伸速度可實現(xiàn) 0.1mm/min 到 15mm/min,滿足幾乎所有領域樣品的原位拉伸觀測。
此次新品發(fā)布會延續(xù)了飛納電鏡一貫的“多,快,好,省”原則——“多”,多人,多用,多功能;“快”,快學,快測,快結果;“好”,好準,好穩(wěn),好管理;“省”,省錢,省心,省空間,同時在目前已有操作簡單(智能化),分辨率高,信噪比高,整體穩(wěn)定性強,對環(huán)境兼容性大,*防震,后期維護方便等基礎上有更多創(chuàng)新。
為了讓客戶更便捷更直觀體驗新產品的各項性能,飛納還展出了新產品并由飛納專家現(xiàn)場演示并及時回答客戶提問。
飛納電鏡專家給客戶演示新品
飛納電鏡專家給客戶演示新品
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