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掃描電鏡和能譜:污染檢測和化學成分分析設備

 發(fā)布時間:2018/2/7 點擊量:1895
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詳細介紹:

機器的小故障有時會導致zui終產品受到污染。金屬顆粒可以從機器的運動部件中分離出來,因為它會在產品上產生摩擦和沉積,有時會降低產品質量。這篇博客描述了的一項技術,不僅可以檢查污染的存在,而且還可以識別它的起源。

 

搜尋和消除:產品污染

 

無論是生產食品、電子設備還是冶金部件,精密機械的引進使生產過程變得工業(yè)化和自動化。這些機器有的壽命較短,有時在一定的操作時間后就會產生缺陷,因為它們是由降解材料制成的,因此會產生小顆粒。

 

這些微粒zui終會沉積在產品上,污染食物,可能會產生有毒金屬。它們可能損壞探測器或印刷電路板(PCB),甚至成為氧化過程的起源,這將損害機械部件的使用效率。

 

因此,關鍵不只是檢測這些粒子,還要追蹤它們的來源,這樣生產線上的操作人員就可以消除這個問題。根據(jù)污染顆粒的性質和大小,有幾種調查方法可供選擇。一些技術被證明是更有效的,因為他們充分利用了材料的化學和物理性質進行分析。

 

電子顯微鏡檢測粒子

 

對小型工業(yè)來說,電子顯微鏡的出現(xiàn),揭示了一種全新的檢測污染的方法,一種比以往使用的方法更有效和準確的方法。。掃描電鏡目前在使用便捷性,分析速度方面有巨大的改善,臺式掃描電鏡以更低的使用成本獲得了小型企業(yè)用戶的青睞。

 

通過使用掃描電鏡(SEM)的背散射電子探測器(BSD),可以產生樣品和粒子的高倍放大圖, 不同的對比度突顯出不同的成分。

 

 

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