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PhenomPro掃描式電子顯微鏡

 更新時(shí)間:2016-05-19 點(diǎn)擊量:3243
   掃描式電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具,主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
  PhenomPro(掃描式電子顯微鏡)是Phenom(飛納)產(chǎn)品中zui*的型號(hào),在繼承了Phenom(飛納)*代(G1)產(chǎn)品操作方便、30秒快速成圖像、售后無憂等優(yōu)點(diǎn)的同時(shí),電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著提高。采用了壽命高達(dá)1500小時(shí)的新一代CeB6燈絲和分辨率更高,功能更全的光學(xué)顯微鏡,提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能,放大倍數(shù)在20-120倍之間,具備明場(chǎng)和暗場(chǎng)兩種模式。
  掃描式電子顯微鏡大倍數(shù):20×-130,000×。
  分辨率:優(yōu)于17nm。
  電子槍:1500小時(shí)CeB6燈絲。
  抽真空時(shí)間:10秒。
  樣品移動(dòng)方式:自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)。
  樣品定位方式:光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航。
  樣品導(dǎo)電性要求:無需噴金,直接觀測(cè)絕緣體。
  拓展功能:顆粒分析系統(tǒng)、3D粗糙度重建、纖維統(tǒng)計(jì)測(cè)量、孔徑測(cè)量系統(tǒng)、高倍拼圖等。
  環(huán)境掃描選件(ESEM):溫控樣品臺(tái),可直接觀測(cè)液體。

傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5,705 室

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