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如何利用掃描電鏡改善聚合物性能

 更新時間:2017-09-08 點擊量:4316

 聚合物性能多樣、用途廣泛:單體以特定方式結合成分子量接近無窮大的高聚物,不同官能團和分子結構決定了對應的應用特性,加工方法也會影響其在不同情況下的力學行為。在這篇文章里,你可以找到使用掃描電鏡(SEM)研究聚合物的精彩案例。

 

聚合物:理想的加工材料
首先,我們來介紹使用掃描電鏡檢測熱塑性聚合物的性能。這種材料擁有非常線性的化學結構,很弱的分子間作用力。因此,加熱很容易破壞這種作用力,使材料發生形變。它們具有很好的絕熱性、良好的化學惰性以及很強的耐磨性。熱塑性聚合物適用于多種加工工藝(如印刷、擠壓),從而把這些材料加工成各種形狀復雜的工件。?
 


圖1:熔噴無紡布纖維的 SEM 圖片。在這一放大倍數下,纖維直徑很容易測量
 

熱塑性聚合物應用廣泛,比如在纖維制品、電器和電子元件、包裝膜等領域,也可以應用在日常生活中,例如耐熱型廚具等。掃描電鏡(SEM)可以用來檢測這類材料的性能和品質,也可以優化工藝并研究外力對材料的影響。

 

可以用掃描電鏡(SEM)觀察聚合物嗎?
用SEM觀察聚合物時,的確會遇到一些問題。但是,聚合物行業是 SEM 的zui大應用領域之一。因此,有很多簡單的方法可以用來解決問題、達成目的。通常,打在樣品上的電子具有很高的電壓。而且,束流又很小以避免損傷樣品。此外,被觀測樣品處于高真空環境中。這些都會對材料產生不同的影響,具體視該材料的化學、物理性質而定。


主要問題就是電子在樣品表面的積累,即常說的荷電效應。通過在樣品表面和某個接地部位搭建一個導電引橋,就可以避免這種問題。一個更簡單的選擇是,根據材料情況改變電鏡中的真空等級。這也可以大幅抵消樣品的荷電效應。還有一個選擇是使用鍍膜設備在材料表面覆蓋一層導電膜。調整參數、控制膜厚,就可以盡可能保證樣品形貌,又適合在 SEM 中觀察。

 

聚合物通常都是很敏感的材料。電子束容易損傷這些樣品,高電壓時尤其如此。實際上,SEM 發射的電子會影響、甚至打斷脆弱的分子間鍵合。某些 SEM 具有低發射束流模式,這就可以觀察樣品的同時避免破壞。飛納臺式掃描電鏡是觀察聚合物的理想選擇,例如在低電壓下有優異的成像性能,并且可以不用噴金直接觀察不導電的樣品。

 

掃描電鏡(SEM)還可以研究聚合物的哪些性質?
聚合物經過耐磨性測試后,使用 SEM 近距離觀察樣品,可以直觀地了解材料的磨損情況。材料的后期研發或產品鏈末端的品質管理經常涉及到這種需求。這種案例中,較常用的手段是通過結構重建或陰影復形進行粗糙度分析。研究人員可以借此檢測材料表面的劃痕深度。
 

圖2:蠟的 SEM 圖片。帶能譜分析功能的 SEM 可以用來分析組成顆粒在聚合物基體中的分布情況
圖3:在半導體的 SEM 照片中,很容易找到生產過程中的缺陷

 

在高倍圖像里,可以地測量纖維和顆粒直徑。這些圖像還可以提供其他信息,比如流體力學性能、纖維中zui大顆粒尺寸、如何使粉末更好的分散在溶液中。也可以借助電腦程序控制掃描電鏡(SEM)自動收集樣品圖片,并且測量諸如直徑、軸徑、長徑比或面積等參數。這些結果快速地提供了大量數據,節約了大量時間,進而提高了研究人員的產出和效率。具體您可以了解飛納臺式掃描電鏡高倍全景拼圖,纖維統計分析測量系統,顆粒統計分析測量系統等軟件。


掃描電鏡(SEM)也廣泛應用于如 3D 打印這樣的新興工藝。3D 打印就是將聚合物擠出,并按照數字 3D 模型加工成一件實物。通過觀測研究打印的像素、品質量及打印機本身的部件,可以大幅提高設備的性能。

 

圖4:3D打印兔子的SEM圖片。SEM可以用來研究物體的缺陷

 

分析顆粒在膜中的分布時,知道不同相的成分有利于改進分散工藝。這種分析可以用能譜儀(EDS)輕松實現。能譜是 SEM 中常用的微區分析技術,在數秒之內,被分析樣品的化學成分就可以顯示在屏幕上。飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX,將掃描電鏡和能譜儀的集成在一起,檢測樣品的形貌和成分非常方便。

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